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晶圓厚度/電阻率/PN摻雜型測量儀 MX6012PX 2799
ET8000型測量機PX 1950
WD4000無圖晶圓粗糙度測量系統PX 7143
BXS11-HJ30焊接檢驗尺PX 3137
NL-QMS磁控濺射納米顆粒尺寸控制系統PX 2315
UltraShape - 晶圓關鍵尺寸測量系統PX 7230
PZ-332C半導體共面性測量設備PX 5397
DM025數顯千分尺PX 3767
德國Nedo伸縮式測量尺F380112供應PX 4490
T2000-TLS-01韓國TANKTECH儲罐罐底干燥度測試尺PX 1390
LZ-H400Pl-D粗糙度輪廓儀PX 0
高精度一鍵式大視野閃測儀測量PX 0
VX8000 系列閃測儀測量儀PX 0
非接觸式晶圓厚度測量儀 MX 301-QPX 2799
刀具輪廓測量儀PX 0
LOZON刀具測量儀PX 0
全自動拼拍測量儀PX 0
晶圓厚度測量儀 MX 102-8PX 2799
晶圓測厚儀 MX203-4-21PX 2799
KIN-063D形貌輪廓測量設備(帶電動壓板)PX 0
SAM Premium超聲掃描顯微鏡PX 1950
SAM全自動全自動超聲波掃描顯微鏡PX 1950
SAM超聲波掃描顯微鏡PX 1950
SENTECH SENDURO®MEMS全自動薄膜質量控制PX 1950
DSM8/200 Gen2測量系統PX 1950
ELIONIX-5超顯微壓痕硬度計PX 1950
全自動雙鏡頭影像測量儀領卓科技PX 0
高精度閃測儀PX 0
經濟性影像測量儀PX 0
領卓科技全自動雙鏡頭影像測量儀PX 0
尺寸測量高精度閃測儀PX 0
高精度雙鏡頭影像測量儀PX 0
全自動雙鏡頭影像測量儀PX 0
LZ-M200Q密封圈檢測儀PX 0
WD4000晶圓厚度Wafer參數量測設備PX 7143
WD4000晶圓表面形貌量測設備PX 7143
WD4000半導體晶圓形貌檢測機PX 7143
WD4000系列晶圓wafer厚度測量設備PX 7143
WD4000系列半導體晶圓幾何形貌量測設備PX 7143
WD4000系列半導體晶圓大翹曲wafer測量設備PX 7143
薄膜生長設備
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集成電路測試與分選設備
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其它半導體行業儀器設備
晶圓厚度/電阻率/PN摻雜型測量儀 MX6012
非接觸式晶圓厚度測量儀 MX 301-Q
晶圓測厚儀 MX203-4-21
晶圓厚度測量儀 MX 102-8
NL-QMS磁控濺射納米顆粒尺寸控制系統
無圖晶圓粗糙度測量系統
半導體共面性測量設備
晶圓厚度Wafer參數量測設備
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